残留応力のX線評価―基礎と応用

基礎と応用 田中啓介（1943ー） 鈴木賢治（材料力学） 養賢堂BKSCPN_【高額商品】 ザンリュウ オウリョク ノ エックスセン ヒョウカ タナカ,ケイスケ(1943ー) スズキ,ケンジ 発行年月：2006年07月 ページ数：363p サイズ：単行本 ISBN：9784842503844 田中啓介（タナカケイスケ） 1943年兵庫県生まれ。1966年京都大学工学部機械第2学科卒業。1971年京都大学大学院博士課程単位取得退学、京都大学工学部助手。1972年工学博士、京都大学。1983年京都大学工学部助教授。1991年名古屋大学工学部教授。1997年名古屋大学大学院工学研究科教授 鈴木賢二（スズキケンジ） 1958年宮城県生まれ。1980年新潟大学工学部機械工学科卒業。1982年新潟大学大学院修士課程修了、新潟大学教育学部助手。1985年新潟大学教育学部講師。1989年新潟大学教育学部助教授。1993年博士（工学）、名古屋大学。2004年新潟大学教育人間科学部教授 秋庭義明（アキニワヨシアキ） 1959年山形県生まれ。1982年新潟大学工学部機械工学科卒業、京都セラミックス株式会社入社。1984年京都大学工学研究科修士課程入学。1989年京都大学工学研究科博士課程単位取得退学、九州工業大学工学部講師、工学博士、京都大学。1990年九州工業大学工学部助教授。1992年名古屋大学工学部助教授。1997年名古屋大学大学院工学研究科助教授（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです） 第1部　残留応力の基礎（応力とひずみ／残留応力の発生・評価・制御／残留応力と強度評価）／第2部　X線応力測定の基礎（結晶材料／X線と回折／多結晶のX線応力測定／X線応力測定の実際）／第3部　X線応力測定法の応用（シンクロトロン放射光による応力測定／中性子回折による応力測定／多相材料・複合材料の応力評価／表面改質・コーティングの応力評価／薄膜の応力評価／接合・溶接材の残留応力評価）／第4部　結晶弾性のマイクロメカニックス（単結晶の弾性変形／単結晶のX線応力測定／多結晶・多相材料の回析弾性定数／繊維配向を有する立法晶多結晶薄膜のX線応力測定）／付録 本 科学・技術 工学 その他

　残留応力の実験的測定法は大別すると破壊的方法と非破壊的方法に分類される。破壊的方法では、構造物そのものが破壊されてしまうため、品質管理などの観点からは非破壊的方法が重要である。Ｘ線応力測定法は、結晶格子をゲージ長さとして結晶によるＸ線回折を利用してひずみを計測する。このため原理的にはあらゆる結晶質材料に適用できる。
　本書は、初心者でも学べるように残留応力に関する材料力学の知識と結晶に関する基礎から説き起し、Ｘ線応力測定の実験が可能となるように記述した。更に放射光と中性子による応力測定にも抵抗なく導入するとともに新技術・新材料に関する最新の進歩を解説している。

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